硅碳棒的使用寿命除了元件的内在质量的差异影响外,还受元件的使用温度,元件发热部表面负荷,环境气氛,有害物质,供电方式(间断和连续使用)以及元件在使用中的串联方式等因素的影响,在各温度中元件的使用负荷,见下图表:


        元件在使用中抗酸性腐蚀,但是在碱性气氛及其他环境中所形成的二氧化硅保护膜受到破坏,使用寿命会受到不同程度的影响。元件在各种气氛中允许使用的最高温度及元件表面负荷如下表:

气氛
棒使用温度℃
元件表面负荷W/cm2
氨、氢
1300
4.6
1320
3.8
1400
4.6
二氧化碳
1500
3.8
一氧化碳
1530
3.8


气氛
棒使用温度℃
元件表面负荷W/cm2
水、汽
1200
4.6
碳氢化合物
1320
3.1
硫、二氧化硫
1320
3.8
真空
1200
3.8
卤素
700
3.8


 

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