硅碳棒的使用寿命除了元件的内在质量的差异影响外，还受元件的使用温度，元件发热部表面负荷，环境气氛，有害物质，供电方式(间断和连续使用)以及元件在使用中的串联方式等因素的影响，在各温度中元件的使用负荷，见下图表：

    元件在使用中抗酸性腐蚀，但是在碱性气氛及其他环境中所形成的二氧化硅保护膜受到破坏，使用寿命会受到不同程度的影响。元件在各种气氛中允许使用的最高温度及元件表面负荷如下表：

气氛 棒使用温度℃ 元件表面负荷W/cm2 氨、氢 1300 4.6 氧 1320 3.8 氮 1400 4.6 二氧化碳 1500 3.8 一氧化碳 1530 3.8

气氛 棒使用温度℃ 元件表面负荷W/cm2 水、汽 1200 4.6 碳氢化合物 1320 3.1 硫、二氧化硫 1320 3.8 真空 1200 3.8 卤素 700 3.8